Overview
- Statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen zurück gewinnen
- Ergänzung zum Laborpraktikum Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
- Simulationswerkzeug für den Elektronikentwickler
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About this book
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.
Keywords
- Elektrotechnik
- Elektronik
- Feldeffekttransistor
- Halbleiterdiode
- OrCAD-PSPICE
- SPICE-Modellparameter
- Sperrschicht-Feldeffekttransistor
- Bipolartransistor
- Transistor
- Buch
- Halbleiter
- Bauelement
- Optokoppler.
- Operationsverstärker
- MOS-Feldeffekttransistor
- Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor
- FET
- MOS-FET
- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren
- Diode
Table of contents (9 chapters)
Authors and Affiliations
About the author
Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann arbeitete als Entwicklungsingenieur im Halbleiterwerk Frankfurt (Oder), als Dozent an der Ingenieurhochschule Mittweida und als Professor an der Westsächsischen Hochschule Zwickau. An der Hochschule Bremen war er als Lehrbeauftragter für Sensorschaltungen tätig.
Bibliographic Information
Book Title: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Book Subtitle: Simulation mit PSPICE
Authors: Peter Baumann
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-658-43821-0
Publisher: Springer Vieweg Wiesbaden
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)
Copyright Information: Der/die Herausgeber bzw. der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2024
Softcover ISBN: 978-3-658-43820-3Published: 09 May 2024
eBook ISBN: 978-3-658-43821-0Published: 08 May 2024
Edition Number: 4
Number of Pages: XI, 251
Number of Illustrations: 257 b/w illustrations, 14 illustrations in colour
Topics: Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Energy Systems, Microwaves, RF and Optical Engineering, Circuits and Systems