Authors:
- Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung
- Präzise und praxisnahe Zuverlässigkeitsaspekte umfassend dargestellt, ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme
- Praktischen Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit der verschiedenen Komponenten
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Table of contents (12 chapters)
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Zuverlässigkeitsengineering
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Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente
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About this book
Keywords
- Elektrotechnik
- Elektronik
- Halbleiter
- Mikroprozessor
- Zuverlässigkeit
- Verpackungstechnologien
- Nachrichtentechnik
- Hochintegrierte Schaltung
- Elektronische Bauelemente
- Ausfallanalyse
- Test und Testbarkeit
- MEMS
- NEMS
- Memristor
- Wandler
- optoelektronische Komponenten
- Kondensator
- Diskrete Bauelemente
- Speichermodul
- Buch
Authors and Affiliations
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La Conversion, Switzerland
Titu-Marius I. Băjenescu
About the author
Bibliographic Information
Book Title: Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Book Subtitle: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Authors: Titu-Marius I. Băjenescu
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2
Publisher: Springer Vieweg Wiesbaden
eBook Packages: Computer Science and Engineering (German Language)
Copyright Information: Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2020
Hardcover ISBN: 978-3-658-22177-5Published: 25 January 2020
eBook ISBN: 978-3-658-22178-2Published: 03 January 2020
Edition Number: 1
Number of Pages: XXXIII, 639
Number of Illustrations: 208 b/w illustrations, 24 illustrations in colour
Topics: Electronics and Microelectronics, Instrumentation, Power Electronics, Electrical Machines and Networks, Circuits and Systems, Electronic Circuits and Devices